尊敬的业界同仁：
您好！
随着物联网技术的飞速发展与广泛应用，智能终端设备作为连接物理世界与数字世界的关键节点，其研发与测试技术正面临前所未有的机遇与挑战。为促进技术交流、分享前沿成果、共探行业我们诚挚邀请您参加于2024年12月24日在上海举办的“物联网与智能终端设备研发测试技术研讨会”。
本次研讨会将聚焦物联网核心技术研发与智能终端设备的测试验证，旨在搭建一个高水平的产学研用交流平台。届时，将邀请来自知名企业、顶尖科研院所及行业机构的专家、学者与技术领袖，围绕以下核心议题展开深度探讨与分享：
- 物联网核心架构与通信技术演进： 探讨5G/6G、NB-IoT、LoRa等低功耗广域网技术，以及边缘计算、雾计算在物联网系统中的创新应用与集成挑战。
- 智能终端设备硬件研发与创新： 分享传感器融合、低功耗设计、嵌入式系统开发、硬件安全模块等关键硬件技术的最新进展与实践案例。
- 软件、协议与平台开发： 深入分析物联网操作系统、轻量级协议、设备管理平台、数据中台及AIoT融合平台的开发策略与最佳实践。
- 综合测试与质量保障体系： 重点研讨针对物联网设备与系统的功能、性能、互操作性、安全性、可靠性及用户体验的测试方法、自动化工具与标准认证。
- 行业应用与未来展望： 剖析工业物联网、智慧城市、智能家居、车联网等典型场景下的解决方案，并展望技术趋势与商业模式创新。
会议详情
- 主题： 智联万物，测试赋能——物联网与智能终端研发测试技术前沿
- 时间： 2024年12月24日（星期二） 09:00 - 17:00
- 地点： 上海·浦东新区（具体地址将在确认参会后另行通知）
- 形式： 主题演讲、专题论坛、技术展区、互动交流
我们相信，您的真知灼见将为本次研讨会增添光彩。与会者将有机会与同行精英建立联系，获取最新行业洞察，共同推动物联网技术与智能终端产业的健康发展与持续创新。
请您于2024年12月10日前通过官方渠道完成参会注册。席位有限，期待您的莅临！
顺祝商祺！
物联网与智能终端设备研发测试技术研讨会组委会
2024年11月
